prikaz prve stranice dokumenta Pretražna elektronska mikroskopija u uvjetima niskog vakuma
  Preuzmi
PDF 10.92 MB
završni rad
Pretražna elektronska mikroskopija u uvjetima niskog vakuma
2023. urn:nbn:hr:160:665540
Bakšaj, Ana
Sveučilište Josipa Jurja Strossmayera u Osijeku
Odjel za fiziku

Citirajte ovaj rad

Bakšaj, A. (2023). Pretražna elektronska mikroskopija u uvjetima niskog vakuma (Završni rad). Osijek: Sveučilište Josipa Jurja Strossmayera u Osijeku, Odjel za fiziku. Preuzeto s https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:160:665540

Bakšaj, Ana. "Pretražna elektronska mikroskopija u uvjetima niskog vakuma." Završni rad, Sveučilište Josipa Jurja Strossmayera u Osijeku, Odjel za fiziku, 2023. https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:160:665540

Bakšaj, Ana. "Pretražna elektronska mikroskopija u uvjetima niskog vakuma." Završni rad, Sveučilište Josipa Jurja Strossmayera u Osijeku, Odjel za fiziku, 2023. https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:160:665540

Bakšaj, A. (2023). 'Pretražna elektronska mikroskopija u uvjetima niskog vakuma', Završni rad, Sveučilište Josipa Jurja Strossmayera u Osijeku, Odjel za fiziku, citirano: 15.04.2024., https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:160:665540

Bakšaj A. Pretražna elektronska mikroskopija u uvjetima niskog vakuma [Završni rad]. Osijek: Sveučilište Josipa Jurja Strossmayera u Osijeku, Odjel za fiziku; 2023 [pristupljeno 15.04.2024.] Dostupno na: https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:160:665540

A. Bakšaj, "Pretražna elektronska mikroskopija u uvjetima niskog vakuma", Završni rad, Sveučilište Josipa Jurja Strossmayera u Osijeku, Odjel za fiziku, Osijek, 2023. Dostupno na: https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:160:665540

Za citiranje koristite ovu mrežnu adresu: https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:160:665540
Prijavite se u repozitorij kako biste mogli spremiti objekt u svoju listu.
Podaci o radu
NaslovPretražna elektronska mikroskopija u uvjetima niskog vakuma
Naslov (engleski)SCANNING ELECTRON MICROSCOPY IN LOW VACUUM CONDITIONS (LOW VACUUM SEM)
AutorAna Bakšaj
MentorDomagoj Belić (mentor)
Član povjerenstvaDomagoj Belić (predsjednik povjerenstva)
Član povjerenstvaMarina Poje Sovilj (član povjerenstva)
Ustanova koja je dodijelila
akademski / stručni stupanj		Sveučilište Josipa Jurja Strossmayera u Osijeku
Odjel za fiziku
Osijek
Datum i država obrane2023-09-21, Hrvatska
Znanstveno / umjetničko
područje, polje i grana		PRIRODNE ZNANOSTI
Fizika
Fizika kondenzirane tvari
Sažetak
Skenirajući elektronski mikroskop (SEM) postao je nezamjenjiv alat za analizu različitih materijala, uključujući metale, polimere, keramiku i drvo. Njegove bitne komponente uključuju izvor elektrona, elektromagnetske leće i detektore. JEOL SEM, moderan i široko korišten instrument, služi za akademska i industrijska istraživanja, kontrolu kvalitete i različite znanstvene primjene. U ovom radu usporedili smo SEM slike dobivene u području niskog vakuuma (LV SEM) i visokog vakuuma (HV SEM) koristeći JSM-IT200 JEOL SEM za skeniranje slabo vodljivih uzoraka drva i natrijevog klorida pri različitim povećanjima i mjerilima. Rezultati su otkrili da je HV SEM proizvodio svjetlije, ali zamućene slike, posebno za drvo, dok je LV SEM nudio višu rezoluciju, posebno za drvo. Nakon povećanja (x50 do x500), jako uvećani uzorci postali su mutniji i manje detaljni. LV SEM pokazao je značajno bolje karakteristike površine. Stoga je LV SEM dosljedno proizvodio vrhunske slike slabo vodljivih uzoraka, osobito pri malom povećanju,što je tema ovog završnog rada.
Sažetak (engleski)
The Scanning Electron Microscope (SEM) has become indispensable for analyzing various materials, including metals, polymers, ceramics, and wood. Its essential components include the electron source, electromagnetic lenses, and detectors. The JEOL SEM, a modern and widely used instrument, caters to academic and industrial research, quality control, and diverse scientific applications. This study compared low vacuum SEM (LV SEM) and high vacuum SEM (HV SEM) using the JSM-IT200 JEOL SEM to scan poorly conductive wood and sodium chloride samples at different magnifications and scales. The results revealed that HV SEM produced brighter but blurred images, particularly for wood, while LV SEM offered higher resolution, especially for wood. Upon magnification (x50 to x500), highly magnified samples became more blurred and less detailed. LV SEM exhibited significantly better surface features. Thus, LV SEM consistently produced superior images of poorly conductive samples, particularly at low magnification, making it the preferred choice for this study.
Ključne riječi
Ključne riječi (engleski)
Jezikhrvatski
URN:NBNurn:nbn:hr:160:665540
Studijski programNaziv: Fizika
Vrsta studija: sveučilišni
Stupanj studija: preddiplomski
Akademski / stručni naziv: sveučilišni/a prvostupnik/prvostupnica (baccalaureus/baccalaurea) fizike (univ.bacc.phys.)
Vrsta resursaTekst
Način izrade datotekeIzvorno digitalna
Prava pristupaOtvoreni pristup
Uvjeti korištenjaIkona licence Zaštićeno autorskim pravom.
Datum i vrijeme pohrane2023-09-26 10:00:34